Tecnología Electrónica

Comprobación transistor NPN con óhmetro: Lecturas esperadas

Un multímetro analógico o digital en **Modo Test Diodo** (preferido) o **Rango Ohmios Bajo** (×100, ×1k) puede verificar uniones BJT. **Extraiga el transistor del circuito** — caminos paralelos invalidan lecturas.

Modelo Uniones NPN

Dos uniones PN compartiendo Base (P):

  • Unión BE: Emisor (N++) → Base (P). Lado emisor fuertemente dopado.
  • Unión BC: Base (P) → Colector (N-). Lado colector ligeramente dopado. Área mayor, mayor ruptura.

Procedimiento Test y Lecturas Esperadas (Modo Diodo = Caída Voltaje Directa)

TestPunta Roja (+)Punta Negra (−)Polarización UniónBuena Lectura (Modo Diodo)Buena Lectura (Modo Ohmios)
1. BE DirectaBase (B)Emisor (E)Directa0.60 – 0.75 VBaja (100s Ω – pocos kΩ)
2. BE InversaEmisor (E)Base (B)InversaOL (Open Loop)Muy Alta / OL
3. BC DirectaBase (B)Colector (C)Directa0.60 – 0.75 VBaja (similar BE)
4. BC InversaColector (C)Base (B)InversaOLMuy Alta / OL
5. CE (Ambas)Colector (C)Emisor (E)Ambas Inv.OLMuy Alta / OL
6. EC (Ambas)Emisor (E)Colector (C)Ambas Inv.OLMuy Alta / OL

Interpretación

  • Dos Caídas Directa (BE, BC) + Cuatro OLs = Buen NPN.
  • BE Directa < BC Directa: Normal (Emisor más dopado → VF ligeramente mayor a misma corriente test).
  • Cualquier Baja Resistencia / Bajo Voltaje Inversa: Unión en corto → **Malo**.
  • OL en Directa: Unión abierta → **Malo**.
  • Baja CE Ambos Sentidos: Transistor en corto (C-E corto) → **Malo**.

Advertencias Críticas

  • Polaridad Multímetro: **Modo Diodo: Rojo = Ánodo (+), Negro = Cátodo (−).** *Algunos multímetros baratos invierten esto en modo Ohmios.* Verifique con diodo conocido.
  • Corriente Test: Modo diodo inyecta ~1 mA. Modo ohmios varía salvajemente (µA a mA). Lecturas son *cualitativas*, no VF o R precisos.
  • Test En Circuito: **Poco fiable.** Resistencias paralelas, condensadores, otras uniones distorsionan lecturas. Solo válido para cortos/abiertos graves si entiende esquema.
  • MOSFETs/IGBTs: Test diferente (Capacitancia compuerta, Diodo cuerpo). Este procedimiento es solo para BJTs.

Este test confirma *integridad uniones*, no *ganancia (β)* ni *velocidad conmutación*. Para test paramétrico, use trazador curvas o tester componentes.

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